בודקי קשיות מתחלקים לשני סוגים: בודקי קשיות משטחים ובוחני קשיות ניידים. בודקי קשיות ספסלים משמשים בעיקר במעבדות ויש להם יתרון של דיוק גבוה. בודקי קשיות ניידים מתאימים לחלקים מכניים מותקנים או מורכבים באופן קבוע וקלים לנשיאה.
בודקי קשיות ניידים משלבים את Leeb, Brinell, Rockwell ובוחני קשיות ניידים אחרים ליחידה אחת, מה שמאפשר המרה חופשית בין שבעה ערכי קשיות שונים. זה מבטל את הליך החיפוש הידני המייגע הנדרש על ידי בודקי קשיות מסורתיים, ומשיג אינטליגנציה וניידות אמיתית.